JTAG接口（英文全称为Joint Test Action Group Test Access Port and Boundary-Scan Architecture，中文翻译为联合测试动作组测试访问端口和边界扫描架构）是一种针对数字电路芯片上非常重要的测试、调试、编程接口技术，它实现了芯片对于环境的控制和读取芯片內部的状态。
从传统走线方式的测试，转向基于扫描的边界扫描技术，由于在硬件设计及时引入BSDL文件，使得对于内部测试结构的访问可以是独立的，使得指令可以远程进行检测，JTAG接口可以实现对芯片的控制、状态的探测、功能的测试、以及数据的传输，而且并不依赖串口、并口等外部接口技术，支持硬造供电、无限控制和长距离控制，具有独特的优越性。
在微电子芯片的研发、测试、分析、检测、维护等领域，JTAG接口具有不可替代的重要作用。通过JTAG接口对于芯片进行调试和测试，可以高效地加快设计周期，发现隐蔽的故障和BUG，大幅度提高了芯片的可靠性和稳定性，同时还可以保证芯片开发的高度保密和不可逆性。此外，JTAG接口的可扩展性广泛，可以对于不同型号的芯片进行定制和优化，能够完美支持芯片的快速迭代和更新，进一步提升了芯片的整体性能。
JTAG接口作为一种测试、调试、编程标准接口技术，已经被广泛地应用于现代微电子领域，为芯片设计、测试、分析等领域提供了丰富、快捷、便捷和高效的支持。
